Sistemas de teste para semicondutores de alta potência
A Hitachi Energy oferece sistemas de teste para vários ambientes, como pesquisa e desenvolvimento, laboratório, produção ou análise de falhas. Garantia da mais alta qualidade, manuseio seguro, bem como capacidade de serviço remoto ou no local são garantidos.
Sistemas de teste de semicondutores de potência
A Hitachi Energy oferece sistemas de teste de produção estáticos e dinâmicos para a maioria dos tipos de dispositivos semicondutores de potência. Eles podem lidar com matrizes, substratos, submódulos, módulos, wafers e dispositivos press-pack. Também estão disponíveis sistemas de teste de confiabilidade para polarização reversa de alta temperatura, vida operacional intermitente ou testes de corrente de pico. As peças auxiliares do testador incluem unidades de fixação, descarga do capacitor, pré-aquecimento, aquisição de dados e extração de parâmetros, bem como unidades programáveis de IGBT e porta do tiristor.
Parâmetros
Os sistemas de teste da Hitachi Energy cobrem uma faixa de até 14 kV e 10 kA e usam uma indutância difusa baixa ajustável. Durante o teste, o dispositivo sob teste (DUT) fixado pode ser aquecido com precisão até 185 °C para sistemas de produção ou resfriado até -40 °C em uma câmara ambiental para sistemas de engenharia. As unidades de fixação podem manusear dispositivos de até 240 mm de diâmetro e podem aplicar uma força de fixação de até 240 kN.
Automação
Nossos sistemas de teste são projetados para fácil integração em equipamentos de manuseio automatizado. O software do sistema de teste é compatível com sistemas de controle comercial, como sistemas de execução de manufatura (MES) e garantia de qualidade assistida por computador (CAQ).
- Sistemas de teste BiPolar
- Sistemas de teste IGBT & SiC MOSFET
| Tiristor e diodo estático/dinâmico | GTO e diodo estático | GTO e dinâmica de diodos | |
Tensão de bloqueio de CA ou CC |
X | X | X |
|---|---|---|---|
| Características da porta | X | X | |
| Tensão direta no estado ligado |
X | X | |
| Cobrança de recuperação reversa | X | X | |
| dV/dt crítico | X | ||
| Tempo de desligamento comutado por circuito | X | ||
| Ligar/desligar | X | X |
Sistemas de teste de confiabilidade
- Polarização reversa de alta temperatura
- Vida útil operacional intermitente/ciclo de energia
- Corrente de surto
- Testador de frequência
Unidade auxiliar
- Unidade de fixação
- Unidade de descarga do capacitor
- Unidade de pré-aquecimento
- Unidades programáveis de porta de IGBT e tiristor
- Unidades de aquisição de dados e extração de parâmetros
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